示值误差(E)反映长度测量的准确度,探测误差(R)反映单点探测的重复性。前者对应尺寸精度,后者对应形状与位置精度。
示值误差 E 通常写作 E = a + L/b:a 为常数项(μm),L 为被测长度(mm),b 为系数。例如 E = 1.5 + L/250,测 100mm 时误差为 1.5+0.4 = 1.9μm,测 500mm 时为 1.5+2.0 = 3.5μm。该指标用量块或步距规在测量范围内多个位置与方向验证,评估空间各方向的长度测量准确性。
探测误差 R 表示从不同方向探测同一点时结果的重复性,通常以最大偏差表示,单位 μm。用标准球在球面多点探测评估,反映测头系统回程误差与导轨重复定位精度。R 越小,圆度、圆柱度、同轴度等形位精度越高。
选购参考:通用机加工零件 E ≤ 2.5μm;精密模具与航空航天件 E ≤ 1.5μm;一级计量室 E ≤ 0.8μm。
